B6-C高精度超聲波測厚儀適用范圍：

B6-C高精度超聲波測厚儀測量各類金屬及其合金制品的厚度，可穿透保護(hù)涂層對基材厚度進(jìn)行測量，涂層的厚度值一并顯示。測量各類非金屬產(chǎn)品（塑料、陶瓷、橡膠、玻璃和其它）的厚度，以及任何超聲波良導(dǎo)體材料的厚度測量。

B6-C高精度超聲波測厚儀優(yōu)勢特點(diǎn)：

1、2.4寸TFT彩色液晶顯示屏（分辨率：320×240）；

2、A掃描模式下，以圖形的方式顯示多次底波反射信號(hào)；
     3、帶有B掃描測量模式；
     4、可穿透保護(hù)涂層對金屬基材進(jìn)行測厚（在E-E-E模式和P-E-Ct模式下）；

5、可測量保護(hù)涂層厚度（在P-E-Ct模式下）；
     6、具有探頭自動(dòng)識(shí)別功能；

7、儀器內(nèi)置29種不同材料的標(biāo)準(zhǔn)聲速值，方便隨時(shí)調(diào)用；

8、涂層聲速值單獨(dú)設(shè)定，確保不同的涂層材料，其厚度測量值準(zhǔn)確（默認(rèn)是油漆聲速）。

B6-C高精度超聲波測厚儀基本技術(shù)參數(shù)：

*測量厚度范圍取決于所檢測材料的聲學(xué)特性和探頭的類型。
   **可穿透涂層厚度范圍取決于涂層材料的聲學(xué)特性。

交付組件：

帶探頭的儀器主機(jī)（探頭數(shù)量和型號(hào)由客戶選擇）、充電器、mini-USB—USB A型數(shù)據(jù)線纜（用于連接計(jì)算機(jī)）、軟件光盤（用于傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)并處理測量結(jié)果）、使用說明書（中英文各一份）、防震儀器箱。

可選配的B6-C測厚儀探頭

雙晶探頭5A10

檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
• 可穿透油漆層對基材進(jìn)行測厚（僅適用于平面工件，油漆層最大厚度≤0.5毫米）；
• 接觸面尺寸：Φ10mm；
• 探頭外形尺寸：Φ18×26mm；
• 工作溫度范圍： -10至+60℃；

注：采用新型復(fù)合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭10A6

檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區(qū)域。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.6至20mm；
• 接觸面尺寸：Φ6mm；
• 探頭外形尺寸：Φ14×26mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：采用新型復(fù)合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭2.5A12

檢測對象：在制造、運(yùn)行和維修過程中測量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：2.5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：3.0至200.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ15mm；
• 探頭外形尺寸：Φ22×45mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

小尺寸雙晶探頭10A4

檢測對象：測量壁厚較薄的管材和金屬板材的厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.5至10mm；
• 接觸面尺寸：Φ4.5mm；
• 探頭外形尺寸：Φ9×11mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測（飛機(jī)的縱梁，小直徑的管道等）。

雙晶高溫探頭5T12

檢測對象：用于測量高溫零部件的厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至100.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ14mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×48mm；
• 工作溫度范圍：-10至+250℃。

可穿透涂層的測厚探頭

雙晶探頭5E10

檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.5至300.0mm（在P-E和P-E-Ct模式下）；
• 1.0至20.0mm（在E-E-E模式下）；
• 最大可穿透涂層厚度為2.0mm（在E-E-E模式下）；
• 最大可穿透涂層厚度為1.0mm（在P-E-Ct模式下）；
• 接觸面尺寸：Φ12mm；
• 探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
• 工作溫度范圍：-1至+60℃。

雙晶探頭10E6

檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區(qū)域，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.6至50.0mm（在P-E模式下）；
• 0.6至10.0mm（在E-E模式下，最大可穿透涂層厚度為1.0mm）；
• 0.6至25.0mm（在P-E-Ct模式下，最大可穿透涂層厚度為0.5mm）；
• 接觸面尺寸：Φ8mm；
• 探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃。

帶延遲塊的探頭15P6DL

檢測對象：推薦用于非常薄的材料的厚度測量。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：15MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.25至10.0m；
• 穿透涂層時(shí)的測厚范圍：0.25至10.0mm（最大可穿透涂層厚度為2mm）；
• 接觸面尺寸：Φ7.4mm，
• 探頭外形尺寸：Φ14×25.5mm；

注：可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測（飛機(jī)的縱梁，小直徑的管道等）。

帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S5C（用于E-E-E模式）

檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ16mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；
• 保護(hù)膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進(jìn)行測厚。

帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S2C（用于E-E-E模式）

檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

• 工作頻率：2.25MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：2.0至150.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ16mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；
• 保護(hù)膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進(jìn)行測厚。